- A double lamellae dropoff etching procedure for tungsten tips attached to tunning fork atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy sensors
Opis
- Tytuł: A double lamellae dropoff etching procedure for tungsten tips attached to tunning fork atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy sensors
- Tytuł czasopisma: Review of Scientific Instruments
- Twórca: Kulawik, M ; Nowicki, Marek
- Strony: s. 1027-1030
- Opis: Ref. ; Abstr.
- Język Abstraktu: eng
- Data wydania: 2003
- Typ: Tekst
- Język publikacji: eng
- Szczegółowy typ obiektu: art
- Typ obiektu: Artykuł
- Tom/Wolumen/Zeszyt: Vol. 74, iss. 2 (2003)