- Scanning Tunnelling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface
Opis
- Tytuł: Scanning Tunnelling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface
- Tytuł czasopisma: Metallofizika i Noveishie Tekhnologii
- Twórca: Galiy, P ; Nenchuk, T ; Ciszewski, Antoni ; Mazur, Piotr ; Zuber, Stefan ; Yarovets, I
- Strony: s. 789-801
- Opis: Zawiera wykresy. ; Zawiera ilustracje. ; Zawiera fotografie. ; Bibliogr. ; Streszcz. w jęz. ang., ukr.
- Język Abstraktu: eng ; ukr
- Data wydania: 2015
- Typ: Tekst
- Identyfikator: ISSN 1024-1809
- Język publikacji: eng
- Szczegółowy typ obiektu: art
- Typ obiektu: Artykuł
- Tom/Wolumen/Zeszyt: Vol. 37, iss. 6 (2015), s. 789-801 : il., fot.