- DFT study of stepped 4H-SiC{0001} surfaces
Opis
- Tytuł: DFT study of stepped 4H-SiC{0001} surfaces
- Tytuł czasopisma: Applied Surface Science
- Twórca: Wachowicz, Elwira ; Ossowski, Tomasz ; Kiejna, Adam
- Strony: s. 129-135
- Opis: Zawiera wykresy. ; Zawiera ilustracje. ; Bibliogr. ; Przy nazwisku Elwira Wachowicz podwójna afiliacja : Institute of Experimental Physics, University of Wrocław, Wrocław, Poland oraz Interdisciplinary Centre for Mathematical and Computational Modelling, University of Warsaw, Warsaw, Poland. ; Streszcz. w jęz. ang.
- Język Abstraktu: eng
- Data wydania: 2017
- Typ: Tekst
- Identyfikator: ISSN 0169-4332 ; https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.04.182
- Język publikacji: eng
- Wersja Cyfrowa: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.04.182
- Szczegółowy typ obiektu: art
- Typ obiektu: Artykuł
- Tom/Wolumen/Zeszyt: Vol. 420 (2017), s. 129-135 : il.
