- Badania układu cienkowarstwowego ZrOx na powierzchni 6H-SiC (0001) metodami LEED i XPS
Opis
- Tytuł: Badania układu cienkowarstwowego ZrOx na powierzchni 6H-SiC (0001) metodami LEED i XPS
- Tytuł czasopisma: Elektronika
- Twórca: Skiścim, Marta ; Idczak, Karolina ; Markowski, Leszek
- Strony: s. 28
- Opis: Zawiera wykresy. ; Zawiera fotografie. ; Bibliogr. ; Streszcz. w jęz. polskim
- Język Abstraktu: pol
- Data wydania: 2011
- Typ: Tekst
- Język publikacji: pol
- Szczegółowy typ obiektu: art
- Typ obiektu: Artykuł
- Tom/Wolumen/Zeszyt: 2011, 8, s. 28 : fot.